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基于CCD和FPGA的光栅位移测量系统
引用本文:常丽,李健强. 基于CCD和FPGA的光栅位移测量系统[J]. 仪表技术与传感器, 2010, 0(5)
作者姓名:常丽  李健强
作者单位:沈阳工业大学信息科学与工程学院,辽宁沈阳,110178
基金项目:辽宁省教育厅资助项目 
摘    要:介绍了一种基于CCD和FPGA的光栅位移测量技术,建立了光栅位移测量系统.系统由线阵CCD采集光栅莫尔条纹,将检测到的莫尔条纹通过A/D转换器输入FPGA处理器,FPGA处理器对采集到的莫尔条纹信号进行处理,利用FFT变换求取信号相位的变化,再根据相位的变化求出位移值.文中详细介绍了工作原理的推导过程、CCD驱动控制、信号预处理以及FFT变换在FPGA中的设计实现.实验验证该系统抗干扰能力强,对光栅信号质量要求不高,能到达较高的细分数,并且系统集成度高,开发成本低,运行稳定.

关 键 词:光栅

Grating Displacement Measurement System Based on CCD and FPGA
CHANG Li,LI Jian-qiang. Grating Displacement Measurement System Based on CCD and FPGA[J]. Instrument Technique and Sensor, 2010, 0(5)
Authors:CHANG Li  LI Jian-qiang
Abstract:
Keywords:CCD  FPGA  FFT
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