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基于虚拟仪器的CMOS器件脉冲总剂量效应在线测试系统研制
引用本文:罗尹虹,龚建成,姚志斌,郭红霞,张凤祁.基于虚拟仪器的CMOS器件脉冲总剂量效应在线测试系统研制[J].核电子学与探测技术,2006,26(6):942-946.
作者姓名:罗尹虹  龚建成  姚志斌  郭红霞  张凤祁
作者单位:西北核技术研究所,陕西西安,710024
摘    要:从效应研究的角度出发,利用Labview软件,自行研制了基于PCI插卡式虚拟仪器的CMOS器件脉冲总剂量效应在线测试系统,详细介绍了其硬件结构和软件设计思想,利用该系统在"强光一号"辐射模拟装置上开展了试验验证,表明其原理和技术途径是可行的,基本掌握了开展CMOS器件脉冲总剂量损伤以及时间关联退火响应研究的关键测试技术.

关 键 词:CMOS器件  脉冲总剂量  测试系统Labview
文章编号:0258-0934(2006)06-0942-05
修稿时间:2005年6月21日

Development of pulsed total dose effect in-circuit measuring system on CMOS devices based on virtual instrument
LUO Yin-hong,GONG Jian-cheng,YAO Zhi-bin,GUO Hong-xia,ZHANG Feng-qi.Development of pulsed total dose effect in-circuit measuring system on CMOS devices based on virtual instrument[J].Nuclear Electronics & Detection Technology,2006,26(6):942-946.
Authors:LUO Yin-hong  GONG Jian-cheng  YAO Zhi-bin  GUO Hong-xia  ZHANG Feng-qi
Abstract:
Keywords:CMOS  pulsed total dose  measuring system  Labview
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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