首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

电子产品可靠性工程
引用本文:黎旺星. 电子产品可靠性工程[J]. 电子质量, 2005, 0(12): 42-43
作者姓名:黎旺星
作者单位:广东行政学院,广州,510500
摘    要:本文分析了在工程应用中元器件失效的原因,并提出了相应的解决方案.

关 键 词:产品可靠性  生产工艺  元器件  应力结构  热设计
文章编号:1003-0107(2005)12-0042-02

The Reliability Engineering of Electronic Product
Li Wang-xing. The Reliability Engineering of Electronic Product[J]. Electronics Quality, 2005, 0(12): 42-43
Authors:Li Wang-xing
Affiliation:Guangdong Administration School, Guangzhou 510500,China
Abstract:The paper analyzed reason of components failure in the engineering application,andgave solution.
Keywords:Product reliability  Technology of production  Components  Stress structure  thermaldesign
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号