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ZrO_2膜中的应力
引用本文:夏风,钱晓良,刘光葵,孙尧卿.ZrO_2膜中的应力[J].中国陶瓷,2000(2).
作者姓名:夏风  钱晓良  刘光葵  孙尧卿
作者单位:华中理工大学材料科学及工程学院!武汉430074
摘    要:用射频溅射制备了ZrO2 膜 ,发现膜呈压应力剥落 ,用X射线衍射分析了薄膜中的应力 ,提出了避免剥落的对策。

关 键 词:薄膜  ZrO_2  基片  应力

STRESS IN ZrO_2 FILMS
XIA Feng,QIAN Xiaoliang,LIU Guangkui,SUN Yaoqing.STRESS IN ZrO_2 FILMS[J].China Ceramics,2000(2).
Authors:XIA Feng  QIAN Xiaoliang  LIU Guangkui  SUN Yaoqing
Abstract:ZrO_2films were deposited with rf sputteringX-ray diffraction method was used for analyzing the stress in the films,which could explain why the films peel off.A strategy for avoiding peeling was proposed.
Keywords:thin film  ZrO_2  substrate  stress  
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