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提高光刻图形质量的双曝光技术
引用本文:苏平,冯伯儒,张锦.提高光刻图形质量的双曝光技术[J].微细加工技术,2001(2):20-23.
作者姓名:苏平  冯伯儒  张锦
作者单位:中国科学院光电技术研究所
基金项目:国家自然科学基金(60076019);所长基金(JK9910);微细加工光学技术国家重点实验室基金(KFS9909)资助.
摘    要:双曝光技术能提高图形对比度和分辨率,可改善焦深,从而提高光刻图形质量,介绍了双 曝光技术原理和几种双曝光方法,同时,提出采用双曝光技术,结合相移掩模和光学邻近效应校正来提高光刻分辨率,给出了双曝光光刻方法的实例及计算机模拟结果。

关 键 词:光学光刻  双曝光技术  图形质量
文章编号:1003-8213(2001)02-0020-04
修稿时间:2000年8月21日

Double-Exposure Technique to Improve Lithography Quality
Su Ping,Feng Boru,Zhang Jin.Double-Exposure Technique to Improve Lithography Quality[J].Microfabrication Technology,2001(2):20-23.
Authors:Su Ping  Feng Boru  Zhang Jin
Affiliation:SU Ping1,FENG Bo-ru1,ZHANG Jin 1,2
Abstract:The double-exposure technique,which is used for optical lithography,has the advatages to enhance the contrast and the resolution,to improve the depth of focus and finally to improve the lithography quality. The principle and several double-exposure techniques are introduced,the double-exposure technique with the phase-shifting mask and the optical proximity correction are used for the enhancement of the lithography resolution.An example of double-exposure techniques and its computer simulat ed results are presented.
Keywords:Optical lithography  Double-exposure technology  
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