| 555时基集成电路测试中电容的巧用 |
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| 引用本文： | 姚海燕. 555时基集成电路测试中电容的巧用[J]. 信息技术, 2010, 34(8): 189-190,193 |
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| 作者姓名： | 姚海燕 |
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| 作者单位： | 南通市中等专业学校,南通,226011 |
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| 摘 要： | 在集成电路（IC）测试程序开发的过程中,通常会遇到一些看似很小,而有时花上很长时间都不能及时解决的问题。这时,换个思路,更换测试电路板的硬件都有可能解决问题。以555时基电路测试程序开发为例,555时基电路可以通过外部电路组合成施密特触发电路、单稳态电路、多谐振荡电路等。其中,在多谐振荡电路中,充、放电电容的巧用将会对整个电路正确波形的产生起到至关重要的作用。
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| 关 键 词： | 555时基电路 电容 谐振电路 |
Application of capacity in 555 timer circuit |
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| YAO Hai-yan. Application of capacity in 555 timer circuit[J]. Information Technology, 2010, 34(8): 189-190,193 |
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| Authors: | YAO Hai-yan |
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| Keywords: | |
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