| 基于PCI总线的超大规模集成电路边界扫描测试系统 |
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| 引用本文： | 周战馨,缪栋.基于PCI总线的超大规模集成电路边界扫描测试系统[J].计算机测量与控制,2002,10(2):76-77,80. |
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| 作者姓名： | 周战馨 缪栋 |
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| 作者单位： | 第二炮兵工程学院,陕西,西安,710025 |
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| 基金项目： | 总装备部基金项目 (EP990 114 ) |
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| 摘 要： | 采用现场可编程门阵列（FPGA）和PCI9052目标接口芯片，实现了符合PCI总线规范和IEEE1149．1标准的超大规模集成电路边界扫描测试系统，具有对系统级、PCB级和芯片级集成电路进行边界扫描测试的功能，结构简单、速度快、工作可靠。
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| 关 键 词： | PCI总线 超大规模集成电路 边界扫描测试系统 IEEE1149.1 |
| 文章编号： | 1671-4598(2002)02-0076-02 |
VLSI Boundary-scan Test System Based on PCI Bus |
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| ZHOU Zhan xin,MIAO Dong.VLSI Boundary-scan Test System Based on PCI Bus[J].Computer Measurement & Control,2002,10(2):76-77,80. |
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| Authors: | ZHOU Zhan xin MIAO Dong |
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| Abstract: | A VLSI boundary-scan test system constructed by using FPGA FLEX10k30A and PCI 9052 target interface chip is presented. This system functions boundary scan test for system, PCB, chip level integrated circuit, complies with PCI bus regulation and IEEE 1149 1 standard and is characterized by concise structure, high-speed and reliability. |
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| Keywords: | PCI bus boundary-scan integrated circuit |
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