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| 三坐标测量机的几种常用扫描方法 | |
| 作者姓名： | 王志奎 朱清慧 李宏生 |
| 作者单位： | 南阳理工学院 |
| 摘 要： | 三坐标测量机 (ＣＭＭ )的测量方式通常可分为接触式测量、非接触式测量和接触与非接触并用式测量。其中 ,接触测量方式常用于机加工产品、压制成型产品、金属膜等的测量。为了分析工件加工数据 ,或为逆向工程提供工件原始信息 ,经常需要用三坐标测量机对被测工件表面进行数据点扫描。本文以美国Ｂｒｏｗｎ＆Ｓｈａｒｐｅ公司ＭｉｃｒｏｘｃｅｌＰｆｘ4 5 4型三坐标测量机为例 ,介绍三坐标测量机的几种常用扫描方法及其操作步骤。三坐标测量机的扫描操作是应用ＰＣ ＤＭＩＳ程序在被测物体表面的特定区域内进行数据点采集 ,该区域可以是一条… |
| 关 键 词： | 三坐标测量机 开线扫描 闭线扫描 面片扫描 截面扫描 边界扫描 |
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