| 机床的光栅测量和数控系统的发展趋势 |
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| 引用本文： | Jan Braasch,张兴全.机床的光栅测量和数控系统的发展趋势[J].世界制造技术与装备市场,2005(5):65-70. |
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| 作者姓名： | Jan Braasch 张兴全 |
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| 作者单位： | 海德汉(德国) 市场总监博士
(Jan Braasch)，海德汉(中国) 技术总监博士(张兴全) |
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| 摘 要： | 机床用光栅测量元件和数控系统是数控机床的两大核心部件,清楚地了解他们的发展趋势,对机床制造商和最终用户都有非常重要的意义。本文结合海德汉(H EID EN H A IN)公司的研究,阐述了现代数控机床用测量系统和数控系统的发展趋势,并着重介绍了机床的精度以及测量系统和数控系统
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| 关 键 词： | 数控机床 发展趋势 数控系统 光栅测量 核心部件 测量元件 最终用户 制造商 |
Development of grating measurement and NC system for machine tools |
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| Jan;Braasch;Zhang XingQuan.Development of grating measurement and NC system for machine tools[J].World Manufacturing Engineering & Market,2005(5):65-70. |
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| Authors: | Jan;Braasch;Zhang XingQuan |
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