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光学元件表面疵病快速检测分类方法研究
引用本文:高玲玲,范勇,陈念年,王俊波.光学元件表面疵病快速检测分类方法研究[J].微计算机信息,2008,24(27).
作者姓名:高玲玲  范勇  陈念年  王俊波
基金项目:国家自然科学基金,国家自然科学基金,国家自然科学基金
摘    要:按ICF相关工程标准进行光学元件表面疵病快速检测是ICF系统中急需解决的问题.本文采用基于替换数组的标记方法和边界跟踪算法快速提取疵病的特征信息,然后利用大量疵病检测结果建立疵病特征信息库及疵病分类准则,提出了一种超大图像的自动快速检测分类方法.实验结果表明该方法能满足实时性需求,取得了较好分类检测效果.

关 键 词:替换数组  形状因子  特征信息  分类准则

A Quick Method 0f Debris Detecting and Classifying for Oversize Optical Element
GAO Ling-ling,FAN Yong,CHEN Nian-nian,WANG Jun-bo.A Quick Method 0f Debris Detecting and Classifying for Oversize Optical Element[J].Control & Automation,2008,24(27).
Authors:GAO Ling-ling  FAN Yong  CHEN Nian-nian  WANG Jun-bo
Abstract:
Keywords:
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