对模拟／混合信号测试系统稳定性的一种评估方法

近年来出现了很多新的半导体产品，如可以用于无线通信、过程控制以及实时控制系统的所谓嵌入式半导体器件就是其中一种，它将模拟和数字电路结合到一个器件内，这种技术又称为混合信号技术。数字电路和模拟电路坐在同一块芯片上对产品的“无缺陷”提出了挑战。对于数字部分，可以向电路施加一个给定的输入激励信号会得到一个离散且确定可知的响应信号。其测试稳定性可以通过SHM00 PLOT来找到最佳的窗口；而模拟信号则不同，给定输入产生的响应会在一个可接受范围内。这需要测试机能对模拟信号进行处理，得到所谓测试值，与给定的范围进行比较从而确定芯片的好坏。其测试稳定性的考虑就与数字测试有所不同。本文从一个实例得出一个评判混合信号测试模拟参数稳定性的通用方法。