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| 全息干涉和散斑计量技术现状 | |
| 引用本文： | 永锐.全息干涉和散斑计量技术现状[J].激光与红外,1985(2). |
| 作者姓名： | 永锐 |
| 摘 要： | 全息干涉计量和散斑技术已广泛应用于机械位移、振动、应力和变形测量。在全息干涉计量术方面,已采用了双曝光、多次曝光、时间平均曝光,以及光束调制和频闪曝光等技术。另外,已研究了条纹定位和三维条纹图形分析技术。最近,在条纹分析中采用了矩阵法和张量计算,从而产生了若干种应变分析技术。利用外差干涉计量术,使相位检测精度提高到千分之一。在散斑干涉计量和照相方面,已经过了研究阶段,开始走向实用。散斑技术是对全息干 |
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