| 开关电流电路及其误差分析 |
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| 引用本文： | 陈曦,高勇. 开关电流电路及其误差分析[J]. 现代电子技术, 2006, 29(10): 99-100,104 |
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| 作者姓名： | 陈曦 高勇 |
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| 作者单位： | 西安理工大学自动化与信息工程学院,陕西,西安,710048 |
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| 摘 要： | 开关电流(SI)技术是有望取代开关电容技术的一种新的采样数据技术。首先介绍了开关电流技术的概念及优点,然后以SI电路基本存储单元为例分析了开关电流电路中可能存在的误差。最后,针对电路中存在的失配误差、传输误差、噪声误差及电荷注入误差等提出了一些解决方法,如S2I技术等。
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| 关 键 词： | 开关电流(SI) 电荷注入误差 时钟馈通 失配误差 |
| 文章编号： | 1004-373X（2006）10-099-02 |
| 收稿时间： | 2006-01-10 |
| 修稿时间： | 2006-01-10 |
Switched-Current Circuit and Analysis of Error |
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| CHEN Xi,GAO Yong. Switched-Current Circuit and Analysis of Error[J]. Modern Electronic Technique, 2006, 29(10): 99-100,104 |
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| Authors: | CHEN Xi GAO Yong |
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| Abstract: | The SwitchedCurrent(SI) technology is a new sampled data technology which will replace the SwitchedCapacitor(SC) technology.This paper introduces the conception and advantages of switchedcurrent technology firstly,and then an analysis of errors in SImemory cell,such as mismatch,transmission errors,noise and chargeinjection errors are given.At last,the resolvents which aimed at the errors mentioned above are provided. |
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| Keywords: | SwitchedCurrent(SI) chargeinjection error clock feedthrough mismatch error |
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