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标准单元工艺参数提取工具的设计及实现
引用本文:李训根,罗小华. 标准单元工艺参数提取工具的设计及实现[J]. 微电子学与计算机, 2007, 24(6): 12-15
作者姓名:李训根  罗小华
作者单位:1. 杭州电子科技大学,微电子CAD研究所,浙江,杭州,310018
2. 浙江大学,超大规模集成电路设计研究所,浙江,杭州,310027
摘    要:提出了一种标准单元工艺参数自动提取工具的实现方法。该工具能利用用户所提供的功能文件自动生成模拟所需的SPICE激励波形,并能根据SPICE激励波形自动进行参数提取,最后自动生成Synopsys综合库,Verilog仿真库和Vital仿++真库。该工具不仅可用于单个电路的工艺参数提取。也可应用于建立工艺参数库。工具缩短了建立工艺参数库的时间,也减少了工艺参数提取过程中人为引入的误差。

关 键 词:标准单元  工艺参数  激励波形  建立时间
文章编号:1000-7180(2007)06-0012-04
修稿时间:2006-05-09

Tool for Extraction Technology Parameter of Standard Cell
LI Xun-gen,LUO Xiao-hua. Tool for Extraction Technology Parameter of Standard Cell[J]. Microelectronics & Computer, 2007, 24(6): 12-15
Authors:LI Xun-gen  LUO Xiao-hua
Affiliation:1 Microelectronic CAD Center, Hangzhou Dianzi University, Hangzhou 310018, China; 2 Institute of VLSI Design, Zhejiang University, Hangzhou 310027, China
Abstract:
Keywords:standard cell   technology parameter   stimulant waveform   setup time
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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