| 扫描测试和扫描链的构造 |
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| 引用本文： | 肖忠辉,商松. 扫描测试和扫描链的构造[J]. 微电子技术, 1998, 0(Z1) |
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| 作者姓名： | 肖忠辉 商松 |
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| 作者单位： | 北京科技大学计算机系!北京，100083，北京中庆微数字设备有限公司!北京，100086 |
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| 摘 要： | 本文首先论述了扫描设计与测试向量自动生成（ATPG）这种测试方法的关键技术，并由此为依据，提出部分扫描设计中，扫描链构造的分层次的三个选取原则。
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| 关 键 词： | 部分扫描 故障覆盖率 测试生成 |
The Scan Test and the Construction of Scan Chain |
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| Xiao Zhonghui, Shang Song. The Scan Test and the Construction of Scan Chain[J]. Microelectronic Technology, 1998, 0(Z1) |
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| Authors: | Xiao Zhonghui Shang Song |
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| Abstract: | By introducing some key techniques in the combinaion of scan design and automatic test pattem generation (ATPG), this paper presents three hierarchical design criteria to apply partial scan in practice. |
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| Keywords: | partial scan fault coverage test generation |
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