14 ^132I半衰期测量 |
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引用本文: | 毛国淑,张生栋,杨磊,丁有钱,崔安智.14 ^132I半衰期测量[J].中国原子能科学研究院年报,2004(1):123-124. |
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作者姓名: | 毛国淑 张生栋 杨磊 丁有钱 崔安智 |
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摘 要: | ^132I的半衰期是核衰变数据中的重要参数之一。早在20世纪50~60年代,^132I的半衰期已发表过几家测量数据,测量所用的仪器为电离室和闪烁探测器。这些仪器只能探测总β或γ,放射性计数,不能分辨测量源中可能存在的放射性杂质。之后,至今也未见有新的数据发表。为此,本工作应用高分辨率HPGe探测器重新测量^132I的半衰期。
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关 键 词: | 半衰期测量 HPGe探测器 核衰变数据 闪烁探测器 高分辨率 60年代 20世纪 测量数据 放射性 |
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