首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

脉冲准分子激光大面积扫描沉积V2O5光电薄膜及光谱分析
引用本文:方国家,刘祖黎,王又青.脉冲准分子激光大面积扫描沉积V2O5光电薄膜及光谱分析[J].红外技术,2000,22(5):5-9.
作者姓名:方国家  刘祖黎  王又青
作者单位:华中科技大学激光技术国家重点实验室!湖北武汉430074,华中科技大学物理系,湖北武汉430074,襄樊学院物理系信息功能材料研究室,湖北襄樊441053,华中科技大学激光技术国家重点实验室!湖北武汉430074,华中科技大学物理系,湖北武汉430074,华中科技大学激光技术国家重点实验室!湖北
基金项目:国家自然科学基金! (编号 :19775 0 16 ),湖北省自然科学基金! (编号 :99J0 49)资助项目
摘    要:采用脉冲准分子激光大面积扫描沉积技术 ,在透明导电玻璃 (ITO)及Si(1 1 1 )单晶基片上沉积了尺寸达 4× 4cm2 ,具有高c轴 (0 0 1 )取向生长的V2 O5薄膜。采用X射线衍射 (XRD)、拉曼光谱 (RS)、傅里叶红外光谱 (FT IR)对沉积及不同温度下退火处理的样品结构和光谱特性进行了研究。

关 键 词:V2O5薄膜  脉冲准分子激光  大面积扫描沉积

Spectroscopic Characterization and Deposition of Large Area V_2O_5 Optical Thin Films by Laser Scanning Ablation
FANG Guo jia ,,LIU Zu li ,WANG You qing ,XIA Qing hua ,YAO Kai lun.Spectroscopic Characterization and Deposition of Large Area V_2O_5 Optical Thin Films by Laser Scanning Ablation[J].Infrared Technology,2000,22(5):5-9.
Authors:FANG Guo jia      LIU Zu li    WANG You qing  XIA Qing hua  YAO Kai lun
Affiliation:FANG Guo jia 1,2,3,LIU Zu li 1,2,WANG You qing 1,XIA Qing hua 3,YAO Kai lun 1,2
Abstract:
Keywords:thin films  V_2O_5  highly c  axis oriented growth  spectroscopic characterizationd
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号