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二氧化硅膜的选择腐蚀
作者姓名:J·A·Maher  黄子伦
作者单位:美国Drytek公司
摘    要:研究表明,对于用于先进的半导体器体制作中的各种二氧化硅膜来说,中压多片腐蚀系统既能进行各向异性腐蚀,又能进行剖面腐蚀。

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