保证盘面质量的浮动试验——叙述一种盘面粗糙度的判废鉴定技术 |
| |
引用本文: | RaymondC.Tseng
,GeneO.Zierdt
,杜肖根.保证盘面质量的浮动试验——叙述一种盘面粗糙度的判废鉴定技术[J].计算机工程,1981(2). |
| |
作者姓名: | RaymondC.Tseng GeneO.Zierdt 杜肖根 |
| |
摘 要: | 为了提高磁盘存贮器的记录密度要求磁头(装在合适的浮动块上)紧靠着高速旋转的盘面“飞行”。在IBM 3370直接存取存贮器中,头盘的间隙保持在不到0.4μm范围内,要稳定这样一个小的间隙则要求盘面不是这样一种粗糙表面,即它会造成头盘相擦从而导致记录系统的灾难性失败。本文叙述一种利用压电梁检测磁盘表面不平坦度的方法。
|
本文献已被 CNKI 等数据库收录! |
|