| X射线衍射分析微晶玻璃陶瓷复合砖表面残余应力 |
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| 引用本文： | 吕明,吴建青,饶平根,朱标,邱茂生,肖绍展.X射线衍射分析微晶玻璃陶瓷复合砖表面残余应力[J].中国陶瓷,2007,43(2):21-23. |
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| 作者姓名： | 吕明 吴建青 饶平根 朱标 邱茂生 肖绍展 |
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| 作者单位： | 1. 华南理工大学,广州,510641
2. 佛山新中源陶瓷有限公司,佛山,528000 |
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| 摘 要： | 运用X射线衍射的方法测试了微晶陶瓷复合砖表面的残余应力，发现抛光微晶玻璃表面残余应力较小。通过分析微晶玻璃陶瓷复合砖表面残余应力产生的原因，指出X射线衍射测得的表面残余应力主要由瓷坯与微晶玻璃间的膨胀系数差别及冷却时温度梯度引起的热应力造成。X射线应力测试和微晶玻璃表面扫描电镜图像都显示，微晶玻璃中硅灰石晶相有取向性。
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| 关 键 词： | X射线应力测试 微晶玻璃陶瓷复合砖 残余应力 热应力 |
| 文章编号： | 1001-9643(2007)02-0021-03 |
| 修稿时间： | 2006-10-15 |
XRD ANALYSIS OF RESIDUAL STRESS ON THE SURFACE OF GLASS-CERAMIC & CERAMIC COMPOSITE TILE |
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| Lv Ming,Wu Jianqing,Rao Pinggen,Zhu Biao,Qiu Maosheng,Xiao Shaozhan.XRD ANALYSIS OF RESIDUAL STRESS ON THE SURFACE OF GLASS-CERAMIC & CERAMIC COMPOSITE TILE[J].China Ceramics,2007,43(2):21-23. |
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| Authors: | Lv Ming Wu Jianqing Rao Pinggen Zhu Biao Qiu Maosheng Xiao Shaozhan |
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| Affiliation: | 1Huanan Engineering University, Guangzhou 510640; 2 New Zhongyuan Ceramics Co., Ltd. Fo Shan 528000 |
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