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基于NiFe薄膜AMR效应磁阻开关芯片的研究
引用本文:余涛,吴婷,杨华,陈忠志,彭斌.基于NiFe薄膜AMR效应磁阻开关芯片的研究[J].传感器世界,2015,21(5):7-11.
作者姓名:余涛  吴婷  杨华  陈忠志  彭斌
作者单位:1. 电子科技大学 电子薄膜与集成器件国家重点实验室,四川成都,610054;2. 贵州雅光电子科技股份有限公司,贵州贵阳,550007;3. 成都芯进电子有限公司,四川成都,610036
基金项目:国家自然科学基金资助项目
摘    要:利用磁控溅射设备在含有电路的6in.晶元上沉积惠斯通电桥形状的NiFe薄膜,对薄膜进行磁场退火处理,然后对薄膜进行后续的加工和封装,成功制备出磁阻开关芯片,经过测试获得芯片的相关电磁参数,发现其开关性能优异,温度稳定性好,静态功耗低,已经达到国外同类产品的性能.

关 键 词:NiFe  磁阻开关芯片  静态功耗

Research of magnetoresistance switching chips based on the AMR effect of NiFe thin films
YU Tao,WU Ting,YANG Hua,CHEN Zhong-zhi,PENG Bin.Research of magnetoresistance switching chips based on the AMR effect of NiFe thin films[J].Sensor World,2015,21(5):7-11.
Authors:YU Tao  WU Ting  YANG Hua  CHEN Zhong-zhi  PENG Bin
Abstract:
Keywords:
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