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针对新型HfO2栅介质改进的四元件电路模型
引用本文:刘红侠,蔡乃琼. 针对新型HfO2栅介质改进的四元件电路模型[J]. 西安电子科技大学学报(自然科学版), 2008, 35(6): 1051-1055
作者姓名:刘红侠  蔡乃琼
作者单位:(西安电子科技大学 宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,陕西 西安 710071)
基金项目:美国应用材料创新基金 , 教育部新世纪优秀人才支持计划 , 教育部高等学校科技创新工程重大项目  
摘    要:针对超薄HfO2栅介质MOS电容,提出改进的四元件小信号等效电路模型,修正了双频C-V法,增加了串联寄生电阻和串联电感两个参数.结合双频测量结果计算出修正的C-V曲线,消除了高频时的频率色散现象,而且曲线更加接近理想C-V曲线.通过实验结果提取了寄生参数值并拟合出各元件值与MOS电容面积和反型层厚度的解析表达式.实验测量和理论计算表明该方法可提高通常C-V法的测量精度.

关 键 词:二氧化铪  双频C-V法  四元件电路模型  频率色散  
收稿时间:2007-09-27

Improved two-frequency method with the four-element circuit model for the novel HfO_2 as the gate dielectric
LIU Hong-xia,CAI Nai-qiong. Improved two-frequency method with the four-element circuit model for the novel HfO_2 as the gate dielectric[J]. Journal of Xidian University, 2008, 35(6): 1051-1055
Authors:LIU Hong-xia  CAI Nai-qiong
Affiliation:(Ministry of Education Key Lab. of Wide Band-Gap Semiconductor Materials and Devices, Xidian Univ., Xi’an 710071, China) ;
Abstract:For the MOS capacitance with the ultra thin hafnium oxide,an equivalent four-element circuit model including the additional series resistance and series inductance is proposed to be employed in the two-frequency C-V correction.These extracted parameters by independently measuring the capacitor at two different frequencies eliminate the frequency dispersion at high frequencies.The corrected C-V curves agree with the theoretical calculation very well.The parameters are extracted,and the relationships between ...
Keywords:HfO2  two-frequency C-V measurement  four-element model  frequency dispersion  
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