| 钛膜中氢同位素的深度分布 |
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| 引用本文： | 丁伟,施立群,龙兴贵.钛膜中氢同位素的深度分布[J].核技术,2007,30(9):754-758. |
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| 作者姓名： | 丁伟 施立群 龙兴贵 |
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| 作者单位： | [1]中国工程物理研究院核物理与化学研究所,绵阳621900 [2]复旦大学现代物理研究所,上海200433 |
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| 基金项目： | 致谢感谢复旦大学现代物理研究所加速器组的全体同志,他们的辛勤工作为本实验开展提供了良好的条件. |
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| 摘 要： | 为评估氢同位素效应对其在贮氢金属中深度分布的影响,对H/D-Ti、D/T-Ti、D-Ti及T-Ti样品用7.4MeV的4He离子束进行30°方向弹性反冲(ERD)分析.由H/D-Ti样品ERD能谱获得其1.7μm深度的D分布,结合D-Ti样品ERD能谱的～3 μm深度的H、D分布进行了模拟分析.结果表明,H、D含量均随深度增加,其分布曲线基本一致,说明在Ti中H、D的分布互不干涉,样品制备过程中其同位素效应不明显.用同样的方法对DT-Ti样品中的D、T分布进行了模拟分析.结果表明,在1.7 μm深度内D、T的分布基本均匀,但由于D、T的能谱过于靠近,其解谱误差较大.用3.0 MeV的质子对HD-Ti和D-Ti进行的质子背散射(PBS)分析表明,两样品中的D分布趋势一致,证明了Ti中H、D的分布互不干涉,样品制备过程其同位素效应不明显的结论.
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| 关 键 词： | 氢同位素 深度分布 弹性反冲 质子背散射 钛膜 氢同位素 深度分布 films titanium hydrogen isotopes profiling 分布趋势 分析表 背散射 质子 误差 解谱 均匀 布基 方法 同位素效应 制备过程 干涉 分布曲线 |
| 修稿时间： | 2006-07-27 |
Depth profiling of hydrogen isotopes in titanium films |
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| DING Wei,SHI Liqun,LONG Xinggui.Depth profiling of hydrogen isotopes in titanium films[J].Nuclear Techniques,2007,30(9):754-758. |
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| Authors: | DING Wei SHI Liqun LONG Xinggui |
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| Affiliation: | 1 Institute of Nuclear Physics and Chemistry, China Academy of Engineering Physics, Mianyang 621900, China; 2 Institute of Modern Physics, Fudan University, Shanghai 200433, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Hydrogen isotopes Depth distribution Elastic recoil detection Proton backscattering |
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