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基于DDS的可程控高精度LCR测试仪
引用本文:康丽奎,杨景常,黄亮,王军峰.基于DDS的可程控高精度LCR测试仪[J].自动化仪表,2009,30(10):52-54.
作者姓名:康丽奎  杨景常  黄亮  王军峰
作者单位:西华大学电气信息学院,四川,成都,610039
基金项目:四川省教育厅重点科研基金资助项目 
摘    要:为了提高测量电感、电容、电阻的精度,设计了一种基于直接数字频率合成DDS的可程控高精度LCR测试仪.该测试仪采用阻抗-相角法结合填充计数法来分别测量各参数;其FPGA芯片则采用DDS技术,产生高频率、高精度和高幅值稳定度的正弦波激励信号;同时,该测试仪还设计了用来实现仪器可程控的接口模块.仿真结果表明,该测试仪大大提高了电感、电容、电阻等参数的测量精度,取得了很好的测量效果.

关 键 词:直接数字频率合成  滤波器  D/A变换  高精度

Programmable Controlled High Precision LCR Tester Based on DDS
Abstract:
Keywords:FPGA
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