基于DDS的可程控高精度LCR测试仪 |
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引用本文: | 康丽奎,杨景常,黄亮,王军峰. 基于DDS的可程控高精度LCR测试仪[J]. 自动化仪表, 2009, 30(10): 52-54 |
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作者姓名: | 康丽奎 杨景常 黄亮 王军峰 |
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作者单位: | 西华大学电气信息学院,四川,成都,610039 |
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基金项目: | 四川省教育厅重点科研基金资助项目 |
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摘 要: | 为了提高测量电感、电容、电阻的精度,设计了一种基于直接数字频率合成DDS的可程控高精度LCR测试仪.该测试仪采用阻抗-相角法结合填充计数法来分别测量各参数;其FPGA芯片则采用DDS技术,产生高频率、高精度和高幅值稳定度的正弦波激励信号;同时,该测试仪还设计了用来实现仪器可程控的接口模块.仿真结果表明,该测试仪大大提高了电感、电容、电阻等参数的测量精度,取得了很好的测量效果.
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关 键 词: | 直接数字频率合成 滤波器 D/A变换 高精度 |
Programmable Controlled High Precision LCR Tester Based on DDS |
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Abstract: | |
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Keywords: | FPGA |
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