| 高速电路信号完整性的测试方法及分析 |
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| 引用本文： | 卢东昕,张攀科,蔡文晖,李华驿.高速电路信号完整性的测试方法及分析[J].电子科技,2005(5):2-5. |
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| 作者姓名： | 卢东昕 张攀科 蔡文晖 李华驿 |
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| 作者单位： | 1. 中兴通讯股份有限公司,技术中心研究部,广东,深圳,518057
2. 中兴通讯股份有限公司,技术中心研究部,广东,深圳,518057;西安电子科技大学,通信工程学院,陕西,西安,710071 |
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| 基金项目： | 国家高技术研究发展计划(863计划) |
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| 摘 要： | 在高速数字系统设计中,信号完整性问题是必须慎重考虑的问题.该文就1Gbps以上的高速信号,对其信号完整性的测试方法进行了详细论述,包括TDR阻抗测试、眼图测试和串扰测试等.运用这些方法,给出了一个3.125Gbps背板的实际测试结果,并针对两种不同的测试设备进行了对比分析.
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| 关 键 词： | 信号完整性 眼图 |
| 修稿时间： | 2004年12月9日 |
Several Signal Integrity Testing Methods |
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| Lu Dongxin,Zhang Panke,Cai Wenhui,Li Huayi.Several Signal Integrity Testing Methods[J].Electronic Science and Technology,2005(5):2-5. |
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| Authors: | Lu Dongxin Zhang Panke Cai Wenhui Li Huayi |
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| Abstract: | Signal integrity is of essential importance in the design of high speed digital systems. This paper gives a detailed discussion of some methods for testing the integrity of high speed signals of over 1 Gbps, including TDR, Eye Pattern and Crosstalk and etc. The testing results of a 3.125 Gbps backplane obtained using these methods and two different testing equipments are compared and analyzed, which serves as the guide to improve the design. |
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| Keywords: | TDR |
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