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| 边界扫描测试电路的设计 | |
| 引用本文： | 王孜,刘洪民,吴德馨. 边界扫描测试电路的设计[J]. 微电子学, 2003, 33(1): 71-73,77 |
| 作者姓名： | 王孜 刘洪民 吴德馨 |
| 作者单位： | 中国科学院,微电子中心,北京,100029 |
| 摘 要： | 讨论了边界扫描测试电路的设计方法和电路的基本结构，并针对光纤通信系统中的32：1时分复用芯片设计了边界扫描电路，给出了模拟结果。 |
| 关 键 词： | 边界扫描测试电路 设计方法 光纤通信 时分复用芯片 板级测试 IEEE标准1149.1 |
| 文章编号： | 1004-3365(2003)01-0071-03 |
Design of Boundary-Scan Test Circuits |
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| Abstract: | |
| Keywords: | Boundary-scan test Board level test IEEE Std.1149.1 Optical fiber communication |
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