| 可演化TMR容错表决电路的设计研究 |
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| 引用本文： | 吴会丛,刘尚合,赵强,原亮.可演化TMR容错表决电路的设计研究[J].半导体技术,2006,31(5):370-373. |
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| 作者姓名： | 吴会丛 刘尚合 赵强 原亮 |
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| 作者单位： | 军械工程学院,静电与电磁防护研究所,河北,石家庄,050003;河北科技大学信息科学与工程学院,石家庄,050054;军械工程学院,静电与电磁防护研究所,河北,石家庄,050003;军械工程学院,计算机教研室,河北,石家庄,050003 |
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| 摘 要： | 在高温、辐射等恶劣环境下微电子设备的可靠性要求越来越高,利用演化硬件(EHW)原理,将EHW技术与三模块冗余(TMR)容错技术相结合,在FPGA上实现可演化的TMR表决电路,使硬件本身具有自我重构和自修复能力,大大提高了系统的可靠性.
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| 关 键 词： | 演化硬件 三模冗余 现场可编程门阵列 |
| 文章编号： | 1003-353X(2006)05-0370-04 |
| 收稿时间： | 2005-08-12 |
| 修稿时间： | 2005年8月12日 |
Research on the Design of Evolvable TMR Voting Circuit |
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| WU Hui-cong,LIU Shang-he,ZHAO Qiang,YUAN Liang.Research on the Design of Evolvable TMR Voting Circuit[J].Semiconductor Technology,2006,31(5):370-373. |
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| Authors: | WU Hui-cong LIU Shang-he ZHAO Qiang YUAN Liang |
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| Affiliation: | 1. a. Electrostatic and Electromagnetic Protection Research Institute, b. Department Of Computer, Ordnance Engineering College, Shijiazhuang, 050003, China; 2. Information Science and Engineering College, Hebei University of Science and Technology, Shijiazhuang, 050054, China |
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| Abstract: | the EHW technique is combined with the TMR fault-tolerant technique to complete the evolvable TMR voting circuit in FPGA, which can make the circuit possess the self-reconfiguration and self-recovery ability and can eventually improve the reliability of the micro-electronic devices working in extreme environment. |
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| Keywords: | evolvable hardware(EHW) triple modular redundancy(TMR) FPGA |
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