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| 产品世界 | |
| 摘 要： | 该成果系统地研究了钨产品中杂质元素的原子光谱分析方法。建立了用ICP-AES直接测定Al、As、Ca、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Mg、Mn、Mo、Ni、Sn、Ti、V等元素的含量:用GFAAS直接测定As、Sn、Bi、Pb和Sb等元素的含量,以及必要时用活性氧化铝分离富集,用ICP-AES测定含量更低的As、Bi、Pb、Sb、Sn、Ca、Cd、Co、Cr、Fe和Ni等元素的配套检测方法。该方法具有简便、快速、实用、节省试剂等优点,其精 |
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