时序电路可及状态的枚举和自动测试生成 |
| |
引用本文: | 刘泽坚,刘华.时序电路可及状态的枚举和自动测试生成[J].电子测试,1995,9(3):4-11. |
| |
作者姓名: | 刘泽坚 刘华 |
| |
作者单位: | 上海交通大学信控系光纤所,上海交通大学信控系光纤所,上海交通大学信控系光纤所,上海交通大学信控系光纤所 |
| |
基金项目: | 国家自然科学基金,批准号09376021 |
| |
摘 要: | 复杂时序电路的测试生成被公认为VL-SI电路测试的难题之一。本文在分析已发表文献对此问题研究情况的基础上,提出一种实用的、可靠的测试生成方法。本方法的特点有二。一是以时序电路可及状态的分析为依据,建立同步、异步时序电路测试的统一数学模型,完全地、准确地反映电路的稳态功能。二是以图论算法为工具,从电路强连通状态转换图中找出最优测试向量序列。此法适用于数字系统层次或功能测试,有效地降低计算复杂性,加快测试生成速度,可望发展成为VLSI电路实用化测试生成方法的一条新途径。
|
关 键 词: | 时序电路 VLSI电路 测试 可及状态 枚举 |
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录! |
|