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一种新型高线性度MOS采样开关
引用本文:彭云峰,严伟,陈华,周锋.一种新型高线性度MOS采样开关[J].微电子学,2006,36(6):774-777,781.
作者姓名:彭云峰  严伟  陈华  周锋
作者单位:复旦大学,专用集成电路与系统国家重点实验室,上海,201203
摘    要:提出了一种提高MOS采样开关线性度的新方法。通过采用电阻分压电路实现一个处于线性工作状态的“复制”MOS管,使其与采样MOS管具有相同的阈值电压。较之传统栅压自举开关,此新型MOS采样开关能够消除由于阈值电压随输入信号变化所产生的非线性。基于Char-tered 0.35μm标准CMOS工艺设计的新型采样开关,在输入信号为30 MHz正弦波,峰-峰值为1V,采样时钟频率为80 MHz时,无杂散动态范围达到了110 dB,较之自举采样开关提高了12 dB左右;同时,导通电阻的变化减小了90%。

关 键 词:模数转换器  采样开关  非线性  无杂散动态范围
文章编号:1004-3365(2006)06-0774-04
收稿时间:2006-03-20
修稿时间:2006-03-202006-07-12

A Novel Sampling Switch with Improved Linearity
PENG Yun-feng,YAN Wei,CHEN Hua,ZHOU Feng.A Novel Sampling Switch with Improved Linearity[J].Microelectronics,2006,36(6):774-777,781.
Authors:PENG Yun-feng  YAN Wei  CHEN Hua  ZHOU Feng
Abstract:
Keywords:Analog-to-digital converter  Sampling switch  Nonlinearity  SFDR
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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