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一种具有变深槽电容的横向功率p-MOSFET
引用本文:程骏骥,武世英,陈为真,李欢,杨洪强.一种具有变深槽电容的横向功率p-MOSFET[J].微电子学,2021,51(5):712-716.
作者姓名:程骏骥  武世英  陈为真  李欢  杨洪强
作者单位:电子科技大学 基础与前沿研究院, 成都 610054;电子科技大学 电子薄膜与集成器件国家重点实验室, 成都 610054;北京大学 东莞光电研究院, 广东 东莞 523808;中国振华集团永光电子有限公司, 贵阳 550018
基金项目:中国博士后科学基金资助项目(2020M683286);四川省科技计划资助项目(2021YJ0373)
摘    要:提出了一种含介质深槽的横向p沟道功率MOSFET(p-MOSFET)。深槽内填充了线性组合的高介电常数(high-k)介质和二氧化硅,以调变寄生的深槽电容(CDT),使CDT充电电荷增大且使该充电电荷沿纵向接近均匀分布。在深槽一侧,通过提高p型漂移区剂量来提供负极板充电电荷,在深槽另一侧,通过增设n型区来提供正极板充电电荷。两侧漂移区的电荷补偿效应均得到增强,器件性能获得提高。仿真结果表明,当击穿电压VB为450 V时,器件的比导通电阻RON,SP为9.5 mΩ·cm2,优值达21.3 MW/cm2,优值为现有器件的2.7倍。该项研究成果为功率集成电路提供了更优的器件选择。

关 键 词:深槽    p-MOSFET    high-k介质    电荷补偿
收稿时间:2020/11/25 0:00:00

A Lateral Power p-MOSFET with Variable Deep-Trench Capacitance
CHENG Junji,WU Shiying,CHEN Weizhen,Li Huan,YANG Hongqiang.A Lateral Power p-MOSFET with Variable Deep-Trench Capacitance[J].Microelectronics,2021,51(5):712-716.
Authors:CHENG Junji  WU Shiying  CHEN Weizhen  Li Huan  YANG Hongqiang
Affiliation:Institute of Fundamental and Frontier Sciences, Univ.of Elec.Sci.and Technol.of China, Chengdu 610054, P.R.China;State Key Lab.of Elec.Thin Films and Integr.Dev., Univ.of Elec.Sci.and Technol.of China, Chengdu 610054, P.R.China;Dongguan Institute of Opto-Electronics, Peking University, Dongguan, Guangdong 523808, P.R.China;China ZhenHua Group YongGuang Electronics Co., Ltd., Guiyang 550018, P.R.China
Abstract:
Keywords:
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