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| 集成电路多故障测试生成算法研究 | |
| 引用本文： | 周庆华.集成电路多故障测试生成算法研究[J].硅谷,2008(14):24-24. |
| 作者姓名： | 周庆华 |
| 作者单位： | 安徽工业职业技术学院,安徽,铜陵,244000 |
| 摘 要： | 对组合电路的测试生成算法进行研究,介绍具有约束条件的布尔差分算法,还对时序电路的测试生成算法进行研究,九值算法比D算法在做D驱赶时要减少很多次无用的计算,在对电路进行描述时充分考虑了故障对电路的重复影响作用,可以对D算法无法产生测试的故障产生测试矢量. |
| 关 键 词： | 集成电路 测试生成 布尔差分算法 九值算法 |
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