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磁控反应溅射TaN薄膜的结构和性能
引用本文:许俊华,李戈扬,顾明元. 磁控反应溅射TaN薄膜的结构和性能[J]. 功能材料, 2000, 31(3): 306-307
作者姓名:许俊华  李戈扬  顾明元
作者单位:上海交通大学金属基复合材料国家重点实验室!上海200030(许俊华,李戈扬,顾明元,金燕萍),上海交通大学金属基复合材料国家重点实验室!上海20(辛挺辉)
摘    要:采用磁控溅射仪制备了TaN薄膜,研究了不同氮分压条件下TaN薄膜的成份、结构和力学性能。结果表明,氮分压在0.2*10^-1Pa时镀层由两相混合物正方的β-Ta和面心立方结构的δ-TaN组成。而氮分压在0.4*10^-1-0.8*10^-1Pa时,得到单相六方TaN结构。

关 键 词:微结构 机械性能 磁控反应溅射 TaN薄膜
文章编号:1001-9731(2000)03-0306-02
修稿时间:1999-03-08

The Structures and Properties of the TaN Coatings Deposited by the Reaction Magnetron Sputtering
XU Junhua,LI Geyang,GU Mingyuan,JIN Yanping,XIN Tinghui. The Structures and Properties of the TaN Coatings Deposited by the Reaction Magnetron Sputtering[J]. Journal of Functional Materials, 2000, 31(3): 306-307
Authors:XU Junhua  LI Geyang  GU Mingyuan  JIN Yanping  XIN Tinghui
Affiliation:XU Junhua ,LI Geyang ,GU Mingyuan,JIN YanPing ,XIN Tinghui (State Key Lab.of MMCs,Shanghai Jiaotong University,Shanghai,200030,China)
Abstract:
Keywords:magnetron sputtering  TaN coatings  nitrogen pressures  microstructure  mechanical properties  
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