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用于改善PtSi红外焦平面阵列器件响应特性的长焦距GaAs微透镜阵列器件的制作研究
引用本文:何苗,易新建,程祖海,刘鲁勤,王英瑞.用于改善PtSi红外焦平面阵列器件响应特性的长焦距GaAs微透镜阵列器件的制作研究[J].红外与毫米波学报,2001,20(5).
作者姓名:何苗  易新建  程祖海  刘鲁勤  王英瑞
作者单位:何苗,易新建,程祖海(华中科技大学);刘鲁勤,王英瑞(中国航天总公司二院25所)  
基金项目:国防重点实验室基金,国家自然科学基金 
摘    要:提出了一种新的曲率补偿法用于长焦距微透镜阵列的制作.扫描电子显微镜(SEM)显示微透镜阵列为表面极为平缓的方底拱形阵列,表面探针测试结果显示用曲率补偿法制作的微透镜的焦距可达到3861.70μm,而常规光刻热熔法很难制作出焦距超过200μm的相同尺寸的微透镜阵列.微透镜阵列器件与红外焦平面阵列器件在红外显微镜下对准胶合,显著改善了红外焦平面阵列器件的响应特性.

关 键 词:微透镜阵列  离子束刻蚀  组合器件  红外焦平面阵列器件
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