| 基于单片机的时序测试系统设计 |
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| 引用本文： | 王琪,章文晋,李建宏. 基于单片机的时序测试系统设计[J]. 电子测量技术, 2015, 38(4): 74-77 |
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| 作者姓名： | 王琪 章文晋 李建宏 |
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| 作者单位： | 1. 北京航空航天大学 可靠性与工程系统学院 北京100191
2. 93413部队,永济044500 |
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| 摘 要： | 针对某特殊应用条件下的时序测试需求,设计了一套基于单片机的测试系统,系统以STC12C2052单片机作为测试的基础硬件,完成逻辑控制、数据采集以及数据处理、测试结果传输等功能,具有结构简单、体积小、性价比高等特点.上位机部分的软件基于VC++6.0设计,主要完成测试数据存储和显示功能.单片机与上位机间通过串口进行通信,经实验证明该系统的测试结果误差较小,工作稳定,完全能够满足实际测试需要,结合上位机能方便的进行历史数据查看和时序波形对比.
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| 关 键 词： | 单片机 测试 数据采集 |
Design of sequential test system based on single chip microcomputer |
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| Wang Qi , Zhang Wenjin , Li Jianhong. Design of sequential test system based on single chip microcomputer[J]. Electronic Measurement Technology, 2015, 38(4): 74-77 |
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| Authors: | Wang Qi Zhang Wenjin Li Jianhong |
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| Affiliation: | Wang Qi;Zhang Wenjin;Li Jianhong;BeiHang University School of reliability and engineering system;The 93413 force; |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | single chip microcomputer test data acquisition |
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