微测量中的PZT应用研究 |
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作者姓名: | 王菊香 |
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作者单位: | 武汉华中理工大学 |
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摘 要: | 压电陶瓷调制器(PZT),在微测量中作为一种执行机构或传感器已得到广泛应用。我们应用PZT调制器作为微位移驱动器.研制的磁盘表面非接触测量仪可实现Ra从0.16到0.01μm的高精表面的精确测量。本文介绍仪器中所用的PZT的测试分析结果。文中将在简述PZT的设计加工之后,着重介绍其位移-电压响应特性测试以及为提高响应曲线的线性度所采取的校正措施。结果表明.经串一适当容量的电容可使PZT响应特性的线性度改善为1.08%.使测量仪中的精度有了可靠保证。
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关 键 词: | 微位移测量,测试技术,校正 |
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