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低介电常数纳米多孔二氧化硅薄膜的制备
引用本文:王娟,张长瑞,冯坚.低介电常数纳米多孔二氧化硅薄膜的制备[J].稀有金属材料与工程,2004,33(Z1):141-144.
作者姓名:王娟  张长瑞  冯坚
作者单位:国防科学技术大学,新型陶瓷纤维及其复合材料国防科技重点实验室,湖南,长沙,410073
基金项目:国防预研项目资助(41312040307)
摘    要:以正硅酸乙酯为原料,采用溶胶-凝胶法、旋转涂胶和超临界干燥工艺在硅片上制备了纳米多孔SiO2薄膜.用近线性生长模型和分形生长模型研究了SiO2溶胶的粘度-时间曲线,确定了SiO2溶胶的结构演变过程.适合旋转涂胶的SiO2溶胶的粘度为9 mPa·s~15 mPa·s;旋转涂胶时SiO2溶胶的粒子尺寸与其浓度密切相关.该SiO2薄膜具有三维网络结构,表面均匀平整,SiO2微粒直径为10nm~20 nm.SiO2薄膜的厚度为400nm~1 000nm;折射率为1.09~1.24;介电常数为1.5~2.5.

关 键 词:纳米多孔二氧化硅薄膜  溶胶-凝胶  低介电常数  粘度
文章编号:1002-185X(2004)S3-141-04
修稿时间:2004年5月29日

Preparation of Nanoporous Silica Films with Low Dielectric Constant
Wang Juan,Zhang Changrui,Feng Jian.Preparation of Nanoporous Silica Films with Low Dielectric Constant[J].Rare Metal Materials and Engineering,2004,33(Z1):141-144.
Authors:Wang Juan  Zhang Changrui  Feng Jian
Abstract:
Keywords:
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