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MOCVD生长的硅衬底上GaAlAs/GaAs单量子阱和多量子阱激光器深能级研究
引用本文:卢励吾,周洁,庄婉如,梅野正義.MOCVD生长的硅衬底上GaAlAs/GaAs单量子阱和多量子阱激光器深能级研究[J].半导体学报,1992,13(3):155-161.
作者姓名:卢励吾  周洁  庄婉如  梅野正義
作者单位:中国科学院半导体研究所半导体超晶格国家重点实验室,中国科学院半导体研究所半导体超晶格国家重点实验室,中国科学院半导体研究所集成光电子学联合实验室半导体所实验区,日本名古屋工业大学电气情报工学科 北京100083,北京100083,北京
摘    要:应用深能级瞬态谱(DLTS)技术研究经MOCVD生长的硅衬底上GaAlAs/GaAs 单量子阱和多量子阱激光器深能级.样品的 DLTS谱表明,在激光器的量子阱和 n-GaAlAs 限制层里均存在着一个浓度和俘获截面较大的高温电子陷阱,该陷阱可能与MOCVD生长工艺和质子轰击引进的损伤有关,它直接影响激光器的性能.DX中心和高温电子陷阱在量子阱里可能局域在GaAlAs/GaAs层的界面附近.

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