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SPRITE红外探测器性能的最佳应用
引用本文:顾伯奇,康蓉,保红珍.SPRITE红外探测器性能的最佳应用[J].红外与激光工程,2000,29(4):58-61.
作者姓名:顾伯奇  康蓉  保红珍
作者单位:昆明物理研究所,昆明,650223
摘    要:文章介绍了工作波段为8~12.5μm、工作温度为80K,器件尺寸:长度L=700μm、宽度w=62.5μm、厚度d=7μm、读出区面积wl=62.5μm×50μm(名义值)的8条SPRITE红外探测器制造和性能;描述了器件工作电压和探测器性能的关系;讨论了该探测器在热成像系统中最佳使用偏置应为60V/cm,而不是目前的30V/cm;对SPRITE探测器进行了理论分析,指出:在热成像系统中,偏置为60V/cm的SPRITE探测器将获得最佳应用,其性能优于160元背景限线列探测器;还讨论了探测器的热负载和工作电压的关系.

关 键 词:SPRITE性能  红外探测器
修稿时间:1999-12-04

Application of optimized performances of SPRITE IR detector
Gu Boqi,Kang Rong,Bao Hongzhen.Application of optimized performances of SPRITE IR detector[J].Infrared and Laser Engineering,2000,29(4):58-61.
Authors:Gu Boqi  Kang Rong  Bao Hongzhen
Abstract:
Keywords:SPRITE performance  Infrared detector  
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