| 集成电路电磁骚扰测试方法 |
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| 引用本文： | 王敏良,孔德海. 集成电路电磁骚扰测试方法[J]. 安全与电磁兼容, 2007, 0(1): 12-14 |
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| 作者姓名： | 王敏良 孔德海 |
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| 作者单位： | 江苏省电子产品监督检验所;江苏省电子产品监督检验所 |
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| 摘 要： | 分析了高频数字集成电路产生电磁发射的原因及其电磁发射的测量原理,简要说明了集成电路电磁骚扰的几种测试方法及其理论依据,介绍了法拉第笼法与磁场探头法的测试系统及其在产品设计方面的应用前景.
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| 关 键 词： | 集成电路 电磁兼容 测试 |
Electromagnetic Emission Test Method of Integrated Circuits |
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| Wang Minliang,Kong Dehai. Electromagnetic Emission Test Method of Integrated Circuits[J]. Safety & EMC, 2007, 0(1): 12-14 |
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| Authors: | Wang Minliang Kong Dehai |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | integrated circuits EMC test |
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