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在Si(111)上脉冲ArF准分子激光淀积晶态定向α-SiC薄膜
作者姓名:王玉霞  温军  郭震  汤洪高  黄继颇  王连卫  林成鲁
作者单位:中国科学技术大学材料科学系!合肥230026(王玉霞,温军,郭震,汤洪高),中国科学院上海冶金研究所!上海200050(黄继颇,王连卫),中国科学院上海冶金研究所!上海20(林成鲁)
基金项目:中国科学院资助项目;59772016;
摘    要:报道用脉冲 Ar F激光烧蚀 Si C陶瓷靶 ,在 80 0℃ Si( 1 1 1 )衬底上淀积 Si C薄膜 ,再经92 0℃真空 ( 1 0 - 3Pa)退火处理 ,制备出晶态α- Si C薄膜 .用 FTIR、XPS、SEM、XRD、TEM、PL谱等分析方法 ,研究了薄膜的表面形态、晶体结构、微结构、组成、化学态和光致发光等 .结果表明 ,在 92 0℃较低温度下 ,Si C薄膜经非晶核化 -长大过程 ,生成了晶态α- Si C( 0 0 0 1 )∥ Si( 1 1 1 )高度定向外延膜 ,薄膜内 C/ Si比约为 1 .0 1 .表面有污染 C及少量氧化态 Si和 C.室温下用 2 80 nm光激发薄膜 ,在 341 nm处有较强发光峰 ,半峰宽 45nm,显示出较好的短波

关 键 词:激光淀积   α-SiC薄膜
文章编号:0253-4177(2000)06-0570-06
修稿时间:1999-04-06
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