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基于机器视觉的微片状物厚度检测
引用本文:王中飞,林茂松,彭勇,褚晓龙,燕发文. 基于机器视觉的微片状物厚度检测[J]. 计算机测量与控制, 2013, 0(1): 36-38
作者姓名:王中飞  林茂松  彭勇  褚晓龙  燕发文
作者单位:西南科技大学计算机科学与技术学院;西南科技大学信息工程学院
基金项目:国防基础科研资助项目(项目文号:869)
摘    要:针对片状颗粒厚度检测的实际需求,结合机器视觉、图像处理和嵌入式技术,设计与实现了一套基于高性能ARM11的微片状颗粒厚度检测系统。该系统以QT和S3C6410为软硬件平台,提出了利用轮廓提取和最小矩形边界框相结合的方法计算片状颗粒厚度。结果表明,该检测系统具有处理速度快,测量精度高和成本低廉等优点,满足了对颗粒厚度测量的需求。

关 键 词:嵌入式系统  机器视觉  图像处理  厚度检测

Detecting Thickness of Micro Flakes Based on Computer Vision
Wang Zhongfei,Lin Maosong,Peng Yong,Chu Xiaolong,Yan Fawen. Detecting Thickness of Micro Flakes Based on Computer Vision[J]. Computer Measurement & Control, 2013, 0(1): 36-38
Authors:Wang Zhongfei  Lin Maosong  Peng Yong  Chu Xiaolong  Yan Fawen
Affiliation:1(1.College of Computer Science and Technology,Southwest University of Science and Technology,Mianyang 621000,China; 2.College of Information Engineering,Southwest University of Science and Technology,Mianyang 621000,China)
Abstract:
Keywords:
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