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| NaI(Tl)闪烁探测器测量γ射线的性能分析 | |
| 引用本文： | 任晓荣.NaI(Tl)闪烁探测器测量γ射线的性能分析[J].传感器世界,2004,10(1):21-26. |
| 作者姓名： | 任晓荣 |
| 作者单位： | 中国石油集团测井有限公司技术中心 |
| 摘 要： | 本文提出NaI(Tl)闪烁探测器测量γ射线的性能要用灵敏度和垂直分辨率来表征.通过分析灵敏度的影响因素,探讨了灵敏度与灵敏体积的关系,提出了提高灵敏度的技术途径.在分析垂直分辨率影响因素的基础上,提出了提高垂直分辨率的技术途径,给出了确定垂直分辨率的经验公式,通过分析、比较,认为最小可分瓣厚度是垂直分辨率的逼近极限.这些结论,对于改进NaI(Tl)闪烁探测器设计,提高闪烁探测器的测量性能具有重要的指导作用. |
| 关 键 词： | NaI(Tl)闪烁探测器 测量 γ射线 性能分析 灵敏度 垂直分辨率 |
| 文章编号： | 1006-883X(2004)01-0021-06 |
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