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基于ANSYS悬臂式RF MEMS开关的力学模拟和疲劳分析
引用本文:李成诗,郭方敏,赖宗声,葛羽屏,徐欣,朱自强,陆卫.基于ANSYS悬臂式RF MEMS开关的力学模拟和疲劳分析[J].半导体技术,2004,29(10):22-26.
作者姓名:李成诗  郭方敏  赖宗声  葛羽屏  徐欣  朱自强  陆卫
作者单位:华东师范大学电子科学技术系,上海,200062;华东师范大学电子科学技术系,上海,200062;中国科学院上海技术物理所,红外物理国家重点实验室,上海,200083;中国科学院上海技术物理所,红外物理国家重点实验室,上海,200083
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划) , 国家自然科学基金 , 上海市应用材料研究与发展基金
摘    要:用ANSYS软件对RF MEMS接触悬臂开关模型进行力电耦合分析,比较了几种情况下的驱动电压,讨论了驱动电压与杨氏模量、悬梁的几何尺寸和电极面积的关系.在力电耦合分析的基础上对开关进行了疲劳特性分析,得出了开关的循环使用次数并与实验结果进行了比较,分析了数据差别比较大的原因,改进了测试开关寿命的方法.

关 键 词:RF  MEMS  ANSYS  力电耦合分析  疲劳分析
文章编号:1003-353X(2004)10-0022-05
修稿时间:2003年10月12日

Simulation and Fatigue Analysis of MEMS RF Cantilevered Beam Switch
LI Cheng-shi,GUO Fang-min,LAI Zong-sheng,GE Yu-ping,XU Xin,ZHU Zi-qiang,LU Wei.Simulation and Fatigue Analysis of MEMS RF Cantilevered Beam Switch[J].Semiconductor Technology,2004,29(10):22-26.
Authors:LI Cheng-shi  GUO Fang-min    LAI Zong-sheng  GE Yu-ping  XU Xin  ZHU Zi-qiang  LU Wei
Affiliation:LI Cheng-shi1,GUO Fang-min1,2,LAI Zong-sheng1,GE Yu-ping1,XU Xin1,ZHU Zi-qiang1,LU Wei2
Abstract:
Keywords:RF  MEMS  ANSYS  coupled  analysis  fatigue  analysis  
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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