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| 基于扫描的DFT对芯片测试的影响 | |
| 引用本文： | 刘玲玲,周文,夏宇闻,徐微,邵寅亮.基于扫描的DFT对芯片测试的影响[J].电子设计应用,2006(3):100-102. |
| 作者姓名： | 刘玲玲 周文 夏宇闻 徐微 邵寅亮 |
| 作者单位： | 1. 北京航空航天大学 2. 巨数微电子公司 |
| 摘 要： | 本文首先简要地介绍了基于扫描的DFT技术,然后具体结合一种控制芯片,通过对两种测试方法的比较,说明了DFT对芯片测试向量、故障覆盖率及测试成本等的影响。 |
| 关 键 词： | DFT 自动测试向量生成 故障覆盖率 |
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