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杂志ISSN号
热应力对半导体分立器件失效率的影响
作者姓名:
莫郁薇
作者单位:
电子部五所 广州510610
摘 要:
本文通过对大量现场和试验可靠性数据的统计分析,论证了采用阿伦尼斯模型描述热应力对半导体分立器件失效率影响的适用性。
关 键 词:
半导体器件 失效率 热应力 可靠性
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