| X射线探测技术 |
| |
| 引用本文： | 陈建文,高鸿奕,谢红兰,徐至展. X射线探测技术[J]. 激光与光电子学进展, 2003, 40(1): 24-30 |
| |
| 作者姓名： | 陈建文 高鸿奕 谢红兰 徐至展 |
| |
| 作者单位： | 中科院上海光机所,上海,201800 |
| |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(编号60278030)。 |
| |
| 摘 要： | 1 引言X射线探测器是用来接收X射线，并把它转化成为可测量或可观察的量的仪器。所有X射线探测器都是基于X射线和物质相互作用的各种特性制成的。根据测量原理，可把X射线探测器分成三类，即：1）零维探测器，包括各种类型的正比计数器和半导体探测器等；2）二维探测器，包括X射线底片、电荷耦合器件（CCD）、X射线成像板、电子变焦管等；3）三维探测器，目前主要是光刻胶。2 X射线零维探测技术所谓零维探测，是指只能探测X射线光子数或X射线强度的技术。零维探测器包含各种计数器，如正比计数器、盖革计数器、闪烁体及半导体探测器等…
|
| 关 键 词： | X射线探测器 半导体探测器 X射线成像板 光刻胶 零维探测 二维探测 三维探测 |
| 收稿时间： | 2002-09-02 |
X-ray Detectors |
| |
| CHEN Jianwen GAO Hongyi XIE Honglan XU Zhizhan. X-ray Detectors[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2003, 40(1): 24-30 |
| |
| Authors: | CHEN Jianwen GAO Hongyi XIE Honglan XU Zhizhan |
| |
| Abstract: | The principle of various kinds of X-ray detector is presented in this paper. |
| |
| Keywords: | X-ray detector semiconduct detector x-ray imaging plate PMMA |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
