| 基于可定制微控制器的光栅检测片上系统 |
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| 引用本文： | 常丽,郑伟,刘丽钧.基于可定制微控制器的光栅检测片上系统[J].仪表技术与传感器,2007(7):53-54. |
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| 作者姓名： | 常丽 郑伟 刘丽钧 |
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| 作者单位： | 沈阳工业大学信息科学与工程学院,辽宁沈阳,110023 |
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| 摘 要： | 新型器件可定制微控制器ZE5内部集成了加速的8051和FPGA,利用一片ZE5实现了光栅数显表的细分辨向、计数、数据处理、人机接口等全部功能的集成,构成嵌入式光栅检测片上系统,利用硬件描述语言Verilog和C语言相结合完成了系统的硬软件设计,并利用Fastchip开发平台进行了系统的调试,给出了调试的过程和仿真波形,该系统具有全数字、可定制、高集成、体积小、速度快等特点。
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| 关 键 词： | 可定制微控制器 全数字 光栅 片上系统 |
| 文章编号： | 1002-1841（2007）07-0053-02 |
| 修稿时间： | 2006-11-29 |
Grating Measuring System on Chip Based on Customizable Microcontroller |
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| CHANG Li,ZHENG Wei,LIU Li-jun.Grating Measuring System on Chip Based on Customizable Microcontroller[J].Instrument Technique and Sensor,2007(7):53-54. |
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| Authors: | CHANG Li ZHENG Wei LIU Li-jun |
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| Affiliation: | School Information Science and Engineering, Shenyang University of Technology , Shenyang 110023, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | customizable microcontroller all digital logic grating system on chip |
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