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| 基于电场力显微镜的聚酰亚胺表面电荷 | |
| 引用本文： | 王春香,孙志,陈丽梅,陈佰树.基于电场力显微镜的聚酰亚胺表面电荷[J].材料科学与工程学报,2014(3):452-455. |
| 作者姓名： | 王春香 孙志 陈丽梅 陈佰树 |
| 作者单位： | 黑龙江八一农垦大学理学院;黑龙江省电介质工程国家重点实验室培育基地(哈尔滨理工大学); |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(51307037);黑龙江省自然科学基金资助项目(QC2013C042,E201220) |
| 摘 要： | 为了研究电介质材料在微纳米尺度下表面电荷产生的原因,为纳米电介质材料的发展提供实验分析基础,本文利用电场力显微镜(Electrostatic Force Microscope,EFM)在微纳米尺度下对聚酰亚胺薄膜表面电荷的起因及特性进行了研究。研究表明:采用导电探针施加偏置电压,摩擦接触聚酰亚胺薄膜表面,在微纳米区域内可产生稳定的电荷分布;薄膜的接触电势差约为-4.0V;负电压更易在聚酰亚胺表面注入电荷;针尖运动速度对聚酰亚胺表面电荷的产生影响并不显著。 |
| 关 键 词： | 电场力显微镜 表面电荷 聚酰亚胺 接触电势差 |
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